Рентгеновская дифрактометрия
Лаборатория оснащена самым современным оборудованием в области рентгеноструктурного анализа рентгеновским дифрактометром XpertPro (Phillips), Нидерланды. Рентгеновский дифрактометр применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии самых разных материалов. Прибор особенно незаменим при минералогическом анализе геологических проб. В основе рентгеноструктурного анализа лежит воздействие рентгеновского излучения с электронами вещества, в результате которого возникает дифракция рентгеновских лучей.


Методами рентгеновского структурного анализа изучают металлы, сплавы, минералы, неорганические и органические соединения, полимеры, аморфные материалы, жидкости и газы, молекулы белков, нуклеиновых кислот и т. д.


Наиболее успешно этот метод применяют для установления атомной структуры кристаллических тел, т. к. кристаллы обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданную самой природой дифракционную решётку для рентгеновского излучения.


Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей, в том числе –малоугловой. Источником рентгеновского излучения с длиной волны Cu Kα 0,154нм служит рентгеновская трубка (напряжение 60 кВ, ток 60 мА). Спектральная и угловая монохроматизация зондового пучка осуществляется с помощью четырехкристального асимметричного монохроматора Ge (220). Образец устанавливается на стол с 6-ю степенями свободы, что позволяет изучать локально по всей поверхности как плоские, так и изогнутые образцы.